X熒光分析儀的簡單介紹EDX4500是一款比較高端適用的X射線熒光分析儀器,用于RoHS檢測、鍍層分析、貴金屬含量檢測、合金成分分析、礦石礦料分析等。X熒光分析儀快速無損,使用操作簡便。X熒光分析儀的詳細信息X熒光分析儀帶抽真空裝置 EDX4500 X射(she)線(xian)熒(ying)光(guang)分析儀(yi)是利用XRF技(ji)術(shu)解決國內(nei)水泥(ni)廠、鋼鐵(tie)公司對復雜(za)成(cheng)份(fen)、材料中元素的快速(su)、準確分析。 該技(ji)術的(de)(de)主要(yao)特(te)征為:利(li)用(yong)低能X光激(ji)(ji)發(fa)待測(ce)元素,對(dui)Si、S、Al、Na、Mg等(deng)(deng)輕元素有良(liang)好(hao)的(de)(de)激(ji)(ji)發(fa)效果,并(bing)且測(ce)試(shi)時間(jian)短,大大提高了(le)檢測(ce)效率(lv)和工(gong)作效率(lv):采(cai)用(yong)UHRD探測(ce)器(qi),具有良(liang)好(hao)的(de)(de)能量線(xian)性(xing)(xing)和能量分辨率(lv),及良(liang)好(hao)的(de)(de)能譜(pu)(pu)特(te)性(xing)(xing),較高的(de)(de)峰背比;采(cai)用(yong)自動穩(wen)譜(pu)(pu)裝置(zhi),保證了(le)儀(yi)器(qi)工(gong)作的(de)(de)一致性(xing)(xing):利(li)用(yong)解譜(pu)(pu)技(ji)術使譜(pu)(pu)峰分解,使采(cai)用(yong)UHRD探測(ce)器(qi)的(de)(de)分析(xi)儀(yi)對(dui)Si、S、AI等(deng)(deng)輕元素的(de)(de)測(ce)試(shi)具有好(hao)的(de)(de)分析(xi)精度;采(cai)用(yong)多(duo)參數(shu)的(de)(de)線(xian)性(xing)(xing)回歸方法,使元素間(jian)的(de)(de)吸收、排斥效應(ying)得(de)到明顯(xian)的(de)(de)降(jiang)低。 性(xing)能特(te)點 專業的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析,亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。 技術指(zhi)標 測量元素范圍:從鈉(Na)至鈾(U) 標準配置 電制冷UHRD探測器 應用領域 測試(shi)高爐渣、生鐵(tie)、燒結礦、球團礦、白云石(shi)、膨(peng)潤土(tu)、石(shi)灰石(shi)、普硅等,還(huan)可(ke)以廣(guang)泛應用于銅合金(jin)(jin)、鋅合金(jin)(jin)、鎂合金(jin)(jin)、鈦合金(jin)(jin)、鈷合金(jin)(jin)、不銹鋼等金(jin)(jin)屬(shu)樣品(pin)的成分(fen)分(fen)析。 X熒光分析不帶抽真空(kong)裝置EDX1800B 二、 不帶抽真空裝(zhuang)裝(zhuang)置 天(tian)瑞X熒光分析儀(yi)EDX1800B儀(yi)器介紹
測ROHS/鹵素 鍍層 合金 針(zhen)對EDX1800在各(ge)個領域(yu)的(de)(de)廣泛應用,根(gen)據優化產(chan)品性(xing)能和提高安(an)全(quan)防護等級的(de)(de)需求,特別設計(ji)該款EDX1800B。應用新一代的(de)(de)高壓電源和X光管,提高產(chan)品的(de)(de)可靠性(xing);利用新X光管的(de)(de)大功率(lv)(lv)提高儀(yi)器的(de)(de)測試(shi)效率(lv)(lv)。 性能特點 下照式:可滿足各種形狀樣品的測試需求 技術指標 元素分析范圍從硫(S)到鈾(U) 標準配置 移動樣品平臺 應用領域 RoHS檢測分析 |